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惠州市華高儀器設備有限公司
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地址：惠州市江北文昌一路11號華貿大廈T3寫字樓1707-1708
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技術文章
| 產品圖片 | 產品名稱/型號 | 產品描述 |
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貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，運用*于的基本參數法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素，其穩定性和可靠性均處于業內*水平。 -
Ux-6200貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運用于的基本參數法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素，其穩定性和可靠性均處于業內水平。 -
貴金屬元素分析儀UX-6200本儀器專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運用*于的基本參數法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素。 -
貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，運用*于的基本參數法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素，其穩定性和可靠性均處于業內*水平。
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X熒光重金屬元素分析儀E-max基于HDXRF技術，可快速準確定量分析土壤中鎘等重金屬元素，其*越檢測性能可以滿足中國農用土壤監管法規要求（GB15618-2018），檢出限輕松應對鎘元素的法規限值0.3mg/kg。 -
貴金屬元素分析儀UX-620本儀器專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運用*于的基本參數法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素。
